Китай Wuhan Precise Instrument Co., Ltd. карта сайта



Домой

О нас

Профиль компании

Экскурсия по заводу

Контроль качества

Частые вопросы

Продукты

Блок измерения источника

Двуканальный источник измерения

Многоканальное испытательное оборудование

Силовое питание высокого тока

Источник питания высокого напряжения

Испытание питания лазера

Карта сбора данных

Системы испытаний полупроводников

Решения

Видео

Блог

Свяжитесь с нами

Цитировать

Домой Wuhan Precise Instrument Co., Ltd. карта сайта

Company

Видео

О нас

Свяжитесь с нами

Блог

Решения

Продукты

Блок измерения источника

Полупроводниковые испытания Импульс SMU Устройство измерения источника Устройство измерения P200B 100V 4A 30A

Устройство измерения источника импульса высокого тока HCP100 Max 30A 50V Устройство измерения источника

300В 4А 30А Импульс SMU блок P300B источник измерения для полупроводников и материалов

Двуканальный источник измерения

30V 30A Двуканальный источник измерения DP100B с измерением напряжения / тока

100В 30А Двуканальный источник измерения DP200B

300V 30A Двухисточник Счетчик DP300B SMU Измерение для испытания электрических характеристик

Многоканальное испытательное оборудование

100В 1А PXI источник измерения единицы одноканальной подкарты DC SMU единицы CS200

Одноканальный PXI SMU 30V 1A Sub Card DC источник измерения CS100

1010C Многоканальный SMU для характеристики полупроводников и материалов

3 слота подкарты в SMU блок 1003C источник измерения

4 канала Национальные приборы SMU 10V 500mA Подкарта постоянного тока Источник мер CS401

Силовое питание высокого тока

300A 30V импульсное питание источник высокого тока HCPL030 для SiC IGBT GaN HEMT испытания

1000А 18В высокопоточный импульсный источник тока HCPL100 Программируемое питание

Источник питания высокого напряжения

2200V 100mA Высоковольтный источник питания E200 Постоянный источник питания

3500V/100mA Высоковольтный источник питания E300 Высоковольтный источник питания

8000V 40mA Высоковольтный источник питания E800 Для испытания SiC / IGBT / GaN HEMT

1200V 100mA Средство измерения высоковольтного источника питания для испытания разрыва IGBT

Испытание питания лазера

20A CW / 20A QCW Испытание лазерного источника питания HCPL002 Высокомощный диодный лазерный источник питания

HCPL006 Диодный лазерный источник питания 60A CW/60A QCW Испытательный лазерный источник питания

60A CW / 600A QCW Испытание лазерного источника питания HCPL060 Диодный лазерный источник питания

Карта сбора данных

2MS/S многоканальная Pxi SMU высокоскоростная карта получения данных A400B высокоскоростная карта Daq

1MS/S Карта получения данных A400 4 канала 16 битная карта DAQ

Системы испытаний полупроводников

1200V/100A Анализатор параметров полупроводников SPA6100 Системы испытаний полупроводников

Система испытаний C-V на полупроводниковых устройствах 10 Hz-1 MHz

1000A Система испытаний датчиков тока CTMS Средства испытания полупроводников

Системы испытаний полупроводников для лазерного старения LDBI Система многоканального испытания

10 кВ/6000А Анализатор силового устройства статический тест PMST для Мосфета BJT IGBT SiC GaN полупроводники

1 2 3 4