1010C Многоканальный SMU для характеристики полупроводников и материалов

Модульное шасси 1010C объединяет передовые технологии с инновационными технологиями.предоставление высокопроизводительного решения для испытаний, адаптированного к различным требованиям в современных исследованиях и разработках и промышленных приложенияхЭта высоко адаптивная платформа имеет унифицированную архитектуру, поддерживающую бесшовную адаптацию взаимозаменяемых функциональных подкарт.позволяет точно выполнять сложные сценарии испытаний в рамках валидации полупроводников, продвинутая характеристика материалов и многоканальная калибровка датчиков.

Характеристики продукта

▪Многоканальная синхронизация:Гибкая конфигурация количества/типов подкарток.

▪Скоростная трансмиссия:Пропускная способность 3 Гбит/с и 16-канальная пусковая ширина обеспечивают точность синхронизации на уровне μs.

▪Стандартный размер:19-дюймовая совместимость стандартных стойки для эффективной интеграции.

▪Промышленная надежность:Многослойная ЭМИ защита и интеллектуальная система охлаждения воздухом.

▪Многопротокольные интерфейсы:GPIB/RS-232/Гигабитные интерфейсы Ethernet для бесперебойной связи.

▪Поддержка командования SCPI:Включает межплатформенное каскадное управление устройством.

▪Широкая совместимость:Бесшовная интеграция с подкартами серии Pusces CS/CBI.

Параметры продукта

Заявления

▪Силовые полупроводники:Используется для различных испытаний мощных полупроводников, представленных SiC (карбидом кремния) и GaN (нитридом галлия), включая испытания разрывного напряжения и испытания старения,предоставление поддержки данных для исследований и разработок, а также контроля качества силовых полупроводников.

▪Дискретные устройства:Может проводить испытания напряжения на дискретных устройствах, таких как диоды и транзисторы, гарантируя, что производительность этих устройств соответствует стандартам в различных условиях напряжения.

▪Интегрированные схемы:В областях интегральных схем и микроэлектроники он используется для испытаний, связанных с чипами, чтобы обеспечить стабильность и надежность чипов в условиях высокого напряжения.

▪Исследование материалов:Для изучения электрических свойств полупроводниковых материалов, с помощью высоковольтного выхода и функций измерения, характеристики материалов анализируются,содействие исследованиям и разработке новых полупроводниковых материалов.

▪Датчики:Предоставляет решения для проверки производительности различных датчиков, моделирует высоковольтные условия и определяет производительность датчиков в условиях экстремального напряжения.

▪Область преподавания:Предоставляет профессиональное оборудование для лабораторий по обучению интегральным схемам и микроэлектронике,помогать студентам изучать принципы и методы работы испытаний высокого напряжения и улучшать их практические способности.