Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
качество Блок измерения источника, Двуканальный источник измерения производитель из Китая
ПРЕЧЕННЫЙ Инструмент. Источник исследования Внутренняя и внешняя согласованность.
February 17, 2025
Основное внимание сосредоточено на испытаниях мощных полупроводников.
Прагматично.
Надежность
Экономическая
Совместимо
Умный.
Стандартный
Увлекательно.
Прагматично.
Надежность
Экономическая
Совместимо
Умный.
Стандартный
Увлекательно.
Популярные видео
-
01:24
![ПРЕЧЕННЫЙ Инструмент. Источник исследования Внутренняя и внешняя согласованность.]()
ПРЕЧЕННЫЙ Инструмент. Источник исследования Внутренняя и внешняя согласованность.
February 17, 2025 -
00:36
![Испытание электрических характеристик полупроводников 30V/1A источник постоянного тока единицы измерения S100]()
Испытание электрических характеристик полупроводников 30V/1A источник постоянного тока единицы измерения S100
February 24, 2025 -
00:34
![Многоканальная высокомощная система лазерного старения LDBI]()
Многоканальная высокомощная система лазерного старения LDBI
February 26, 2025 -
00:24
![300V/4A/30A Измерительный блок источника импульса P300B для полупроводников и материалов]()
300V/4A/30A Измерительный блок источника импульса P300B для полупроводников и материалов
February 24, 2025 -
00:24
![300A/30V высоковольтный импульсный источник питания HCPL030 для SiC/IGBT/GaN HEMT испытания]()
300A/30V высоковольтный импульсный источник питания HCPL030 для SiC/IGBT/GaN HEMT испытания
February 25, 2025 -
00:24
![1200V/100mA Высоковольтный источник питания для испытания разрывного напряжения IGBT]()
1200V/100mA Высоковольтный источник питания для испытания разрывного напряжения IGBT
February 25, 2025 -
00:24
![Двуканальный источник 300V/30A DP300B для различных испытаний электрических характеристик]()
Двуканальный источник 300V/30A DP300B для различных испытаний электрических характеристик
February 24, 2025
Системы испытаний полупроводников
-
00:34
![Многоканальная высокомощная система лазерного старения LDBI]()
Многоканальная высокомощная система лазерного старения LDBI
February 26, 2025 -
00:24
![Система испытаний датчиков тока 1000A CTMS]()
Система испытаний датчиков тока 1000A CTMS
February 26, 2025 -
00:30
![10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников]()
10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников
February 26, 2025 -
00:36
![Анализатор параметров полупроводников 1200В/100А SPA6100]()
Анализатор параметров полупроводников 1200В/100А SPA6100
February 26, 2025
Недавние видео
-
00:34
![Многоканальная высокомощная система лазерного старения LDBI]()
Многоканальная высокомощная система лазерного старения LDBI
February 26, 2025 -
00:24
![Система испытаний датчиков тока 1000A CTMS]()
Система испытаний датчиков тока 1000A CTMS
February 26, 2025 -
00:30
![10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников]()
10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников
February 26, 2025 -
00:36
![Анализатор параметров полупроводников 1200В/100А SPA6100]()
Анализатор параметров полупроводников 1200В/100А SPA6100
February 26, 2025 -
00:27
![2 MS/s Многоканальная карта получения данных A400B Board Высокая скорость]()
2 MS/s Многоканальная карта получения данных A400B Board Высокая скорость
February 26, 2025 -
00:24
![Карта сбора данных A400 с 16-разрядным разрешением ADC и скоростью отбора проб 1 Мс/с]()
Карта сбора данных A400 с 16-разрядным разрешением ADC и скоростью отбора проб 1 Мс/с
February 26, 2025 -
00:24
![60A CW/600A QCW Испытание высокой мощности лазерного источника питания HCPL060]()
60A CW/600A QCW Испытание высокой мощности лазерного источника питания HCPL060
February 25, 2025
