Китай Wuhan Precise Instrument Co., Ltd. Карта сайта



Домой

О нас

Профиль компании

Экскурсия по заводу

Контроль качества

Частые вопросы

продукты

Блок измерения источника

Двуканальный источник измерения

Многоканальное испытательное оборудование

Силовое питание высокого тока

Источник питания высокого напряжения

Испытание питания лазера

Карта сбора данных

Системы испытаний полупроводников

Решения

Видео

Блог

Свяжитесь с нами

цитата

Домой Wuhan Precise Instrument Co., Ltd. Карта сайта

компания

Видео

О нас

Свяжитесь с нами

Блог

Решения

продукты

Блок измерения источника

Измеритель источника импульса P300 300V 1A 10A Измеритель источника полупроводников

30В 4А 30А Измеритель источника импульса P100B Источникомер для полупроводниковых устройств

Полупроводники Измеритель источника 100В 1А 10А Измеритель источника импульса P200

30В 1А 10А P100 Источникомер Четырехквадрантной операции Импульс источника измерения

S200B DC Source Meter 100V 3A полупроводниковый измерительный блок

Полупроводниковый точный источник измерения S300B 300V 3A DC источник Meter

Двуканальный источник измерения

30V 30A Двуканальный источник измерения DP100B с измерением напряжения / тока

100В 30А Двуканальный источник измерения DP200B

300V 30A Двухисточник Счетчик DP300B SMU Измерение для испытания электрических характеристик

Многоканальное испытательное оборудование

10V 500mA PXI Источник измерения Устройство подкарты Импульс PXI SMU Устройство CBI401

18V 1A Четырехканальная подкарточка Измерение источника импульса CBI403 SMU

10В 1А PXI SMU 4 канала подкарты импульс SMU источник единицы измерения CBI402

18V 1A PXI SMU Четырехканальная подкарта источника постоянного тока

Подкарта PXI SMU 10V 200mA для испытаний высокой пропускной способности в параллельных средах

300В 1А модульный SMU блок одноканальная подкарта источника постоянного тока измерение CS300

Силовое питание высокого тока

300A 30V импульсное питание источник высокого тока HCPL030 для SiC IGBT GaN HEMT испытания

1000А 18В высокопоточный импульсный источник тока HCPL100 Программируемое питание

Источник питания высокого напряжения

2200V 100mA Высоковольтный источник питания E200 Постоянный источник питания

3500V/100mA Высоковольтный источник питания E300 Высоковольтный источник питания

8000V 40mA Высоковольтный источник питания E800 Для испытания SiC / IGBT / GaN HEMT

1200V 100mA Средство измерения высоковольтного источника питания для испытания разрыва IGBT

Испытание питания лазера

20A CW / 20A QCW Испытание лазерного источника питания HCPL002 Высокомощный диодный лазерный источник питания

HCPL006 Диодный лазерный источник питания 60A CW/60A QCW Испытательный лазерный источник питания

60A CW / 600A QCW Испытание лазерного источника питания HCPL060 Диодный лазерный источник питания

Карта сбора данных

2MS/S многоканальная Pxi SMU высокоскоростная карта получения данных A400B высокоскоростная карта Daq

1MS/S Карта получения данных A400 4 канала 16 битная карта DAQ

Системы испытаний полупроводников

1200V/100A Анализатор параметров полупроводников SPA6100 Системы испытаний полупроводников

Система испытаний C-V на полупроводниковых устройствах 10 Hz-1 MHz

1000A Система испытаний датчиков тока CTMS Средства испытания полупроводников

Системы испытаний полупроводников для лазерного старения LDBI Система многоканального испытания

10 кВ/6000А Анализатор силового устройства статический тест PMST для Мосфета BJT IGBT SiC GaN полупроводники

1 2 3 4