10V/500mA Четырехканальная подкарта постоянного тока источника измерения CS401

CS400 представляет собой модульное решение SMU, разработанное для тестирования устройств большого объема, с инновационной архитектурой common-ground с 4 каналами на подкарту.При интеграции с хост-системой CS1010C, он обеспечивает синхронизированное управление до 40 каналов, снижая затраты на интеграцию системы на 50% по сравнению с традиционными одноканальными приборами.Оптимизирован для применения с высокой пропускной способностью, включая испытания старения на производственной линии LED/OLED и параллельную инспекцию полупроводниковых пластинок с несколькими зондами.

Характеристики продукта

▪± 0,1% Базовая точность:Сохраняет точность в полном диапазоне как в режиме загрузки, так и в режиме погружения.

▪Многофункциональная операция:Сочетает в себе источники напряжения / тока, вольтметр / амперметр и возможности электронной нагрузки.

▪Программируемые I/O триггеров:Конфигурируемая полярность спусковой установки (высокий/низкий край) для автоматизированной последовательности испытаний.

▪ Независимый канал управления:Каждый канал работает автономно для сценариев испытаний смешанных устройств.

▪Пространственно эффективный дизайн:Компактная модульная архитектура максимизирует плотность стойки в производственной среде.

▪Совместимость с SCPI:Стандартный набор команд обеспечивает бесшовную интеграцию с системами автоматизации LabVIEW/Python.

Параметры продукта

Заявления

▪Испытания полупроводниковых устройств:Статический/динамический анализ параметров дискретных устройств (MOSFET, диоды, BJT).

▪ Наноматериалы и органическая электроника:Противопоказания и испытания эффекта Холла для графена, нанопроводов и материалов электронного чернила.

▪Оценка энергетического устройства:Испытания эффективности и сканирование I-V кривых для солнечных элементов, конвертеров DC-DC и батарей.

▪Калибровка датчика:Характеристика чувствительности и ответа газочувствительных/давлю чувствительных резисторов и датчиков температуры.

▪Многоканальное параллельное испытание:Испытания старения панели LED/AMOLED и QA для большого объема производства для проверки многоустройств.