|
|
| Наименование марки: | PRECISE INSTRUMENT |
| Номер модели: | CS200 |
| МОК: | 1 единицы |
| Время доставки: | 2- 8 недель |
| Условия оплаты: | T/T |
100В 1А PXI источник измерения единицы одноканальной подкарты DC SMU единицы CS200
Модульная подкарта CS200 представляет собой высокоточный одноканальный цифровой блок измерения источника (SMU), предназначенный для многослотовых модульных систем хоста.эта подкарта интегрирует источник напряжения/тока, функции вольтметра/ампера и возможности электронной нагрузки в одном модуле.позволяет одновременно получать и измерять ток/напряжение, что делает его идеальным для выполнения сложных задач по электрической характеристике, таких как параметрический анализ полупроводников и валидация силовых устройств.
Характеристики продукта
▪Точность:00,1% точности источника/измерения с 51⁄2-значным разрешением.
▪Диапазоны:Напряжение 300 мВ·100 В, ток 100 нА·1 А, максимальная мощность 30 Вт.
▪Режимы работы:Четырехквартальная операция как для снабжения, так и для электронной загрузки.
▪МасштабируемостьСовместима с Pusces 1003CS (3-слотными) и 1010CS (10-слотными) хостами.
▪Многоканальное управление:Автобус триггера позволяет синхронизировать сканирование или независимую работу между подкартами.
▪Режимы сканирования:Линейное, экспоненциальное и индивидуальное сканирование IV кривых для сложной характеристики.
▪Интерфейсы:RS-232, GPIB и Ethernet для бесшовной интеграции в автоматизированные системы испытаний.
Параметры продукта
|
Позиции |
Параметры |
|
Количество каналов |
1 канал |
|
Диапазон напряжения |
300 мВ~100 В |
|
Разрешение минимального напряжения |
30уВ |
|
Текущий диапазон |
100nA～1А |
|
Минимальное разрешение тока |
10pA |
|
Максимальная выходная мощность непрерывной волны (CW) |
30 Вт, 4-квадрантный источник или режим водопоглощения |
|
Границы источника напряжения |
±30В (для диапазона ≤1A), ±100В (для диапазона ≤100mA) |
|
Текущие пределы источника |
±1A (для диапазона ≤30В), ±100mA (для диапазона ≤100В) |
|
Стабильная емкость нагрузки |
< 22nF |
|
Широкополосный шум (20 МГц) |
2mV RMS (типичное значение), < 20mV Vp-p (типичное значение) |
|
Максимальная частота отбора проб |
1000 S/s |
|
Точность измерения источника |
00,10% |
|
Хосты, с которыми он совместим |
1003C,1010C |
Заявления
▪Испытания полупроводниковых устройств:IV характеристика и параметрический анализ дискретных устройств (диоды, BJT, MOSFET, устройства SiC).
▪Оценка датчиков, включая измерение сопротивляемости и анализ эффекта Холла.▪Технологии:Характеристика электрических свойств наноматериалов (графена, нанопроводов) и органических материалов (электронного чернила).Оценка эффективности и оценка старения для солнечных элементов, светодиодов и AMOLED.
▪Промышленные и исследовательские приложения:Многоканальные параллельные испытательные системы для испытания цикла батареи и проверки эффективности преобразователя постоянного тока.Решения для испытаний высокой плотности (например,тестирование на уровне пластины) посредством сотрудничества с несколькими подкартами для повышения пропускной способности.
|
| Наименование марки: | PRECISE INSTRUMENT |
| Номер модели: | CS200 |
| МОК: | 1 единицы |
| Подробная информация об упаковке: | Картон. |
| Условия оплаты: | T/T |
100В 1А PXI источник измерения единицы одноканальной подкарты DC SMU единицы CS200
Модульная подкарта CS200 представляет собой высокоточный одноканальный цифровой блок измерения источника (SMU), предназначенный для многослотовых модульных систем хоста.эта подкарта интегрирует источник напряжения/тока, функции вольтметра/ампера и возможности электронной нагрузки в одном модуле.позволяет одновременно получать и измерять ток/напряжение, что делает его идеальным для выполнения сложных задач по электрической характеристике, таких как параметрический анализ полупроводников и валидация силовых устройств.
Характеристики продукта
▪Точность:00,1% точности источника/измерения с 51⁄2-значным разрешением.
▪Диапазоны:Напряжение 300 мВ·100 В, ток 100 нА·1 А, максимальная мощность 30 Вт.
▪Режимы работы:Четырехквартальная операция как для снабжения, так и для электронной загрузки.
▪МасштабируемостьСовместима с Pusces 1003CS (3-слотными) и 1010CS (10-слотными) хостами.
▪Многоканальное управление:Автобус триггера позволяет синхронизировать сканирование или независимую работу между подкартами.
▪Режимы сканирования:Линейное, экспоненциальное и индивидуальное сканирование IV кривых для сложной характеристики.
▪Интерфейсы:RS-232, GPIB и Ethernet для бесшовной интеграции в автоматизированные системы испытаний.
Параметры продукта
|
Позиции |
Параметры |
|
Количество каналов |
1 канал |
|
Диапазон напряжения |
300 мВ~100 В |
|
Разрешение минимального напряжения |
30уВ |
|
Текущий диапазон |
100nA～1А |
|
Минимальное разрешение тока |
10pA |
|
Максимальная выходная мощность непрерывной волны (CW) |
30 Вт, 4-квадрантный источник или режим водопоглощения |
|
Границы источника напряжения |
±30В (для диапазона ≤1A), ±100В (для диапазона ≤100mA) |
|
Текущие пределы источника |
±1A (для диапазона ≤30В), ±100mA (для диапазона ≤100В) |
|
Стабильная емкость нагрузки |
< 22nF |
|
Широкополосный шум (20 МГц) |
2mV RMS (типичное значение), < 20mV Vp-p (типичное значение) |
|
Максимальная частота отбора проб |
1000 S/s |
|
Точность измерения источника |
00,10% |
|
Хосты, с которыми он совместим |
1003C,1010C |
Заявления
▪Испытания полупроводниковых устройств:IV характеристика и параметрический анализ дискретных устройств (диоды, BJT, MOSFET, устройства SiC).
▪Оценка датчиков, включая измерение сопротивляемости и анализ эффекта Холла.▪Технологии:Характеристика электрических свойств наноматериалов (графена, нанопроводов) и органических материалов (электронного чернила).Оценка эффективности и оценка старения для солнечных элементов, светодиодов и AMOLED.
▪Промышленные и исследовательские приложения:Многоканальные параллельные испытательные системы для испытания цикла батареи и проверки эффективности преобразователя постоянного тока.Решения для испытаний высокой плотности (например,тестирование на уровне пластины) посредством сотрудничества с несколькими подкартами для повышения пропускной способности.
