Видеоканал Китая Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Чат контактные данные
Домой Видео Список воспроизведений Website

Испытание электрических характеристик полупроводников 30V/1A источник постоянного тока единицы измерения S100

Блок измерения источника
February 24, 2025
Category Connection: Блок измерения источника
Чат контактные данные
Представляем S100, 30V / 1A полупроводниковый электрические характеристики тестирования постоянного тока источника измерения, предлагая высокую точность, широкий динамический диапазон и инновационный цифровой дизайн сенсорного,с такими характеристиками, как обеспечение точности измерений, функциональность "все в одном", высокое разрешение, четырехквартальная работа и богатые интерфейсы для легкой интеграции, идеально подходят для испытаний полупроводников, исследования материалов, испытаний электронных компонентов,исследования и образование, и автоматизированные системы тестирования, добро пожаловать на наш сайт!
Тэги:
#единица источника #Единица измерения источника #Единица измерения точного источника
Связанные видео
2 MS/s Многоканальная карта получения данных A400B Board Высокая скорость 00:27

2 MS/s Многоканальная карта получения данных A400B Board Высокая скорость
Блок измерения источника
February 26, 2025
1000A/18V высоковольтный импульсный источник питания HCPL100 для испытания SiC/IGBT/GaN HEMT 00:24

1000A/18V высоковольтный импульсный источник питания HCPL100 для испытания SiC/IGBT/GaN HEMT
Блок измерения источника
February 25, 2025
S300 Измерительный блок источника постоянного тока 300В/1А для испытаний электрических характеристик 00:24

S300 Измерительный блок источника постоянного тока 300В/1А для испытаний электрических характеристик
Блок измерения источника
February 24, 2025
10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников 00:30

10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
Многоканальная высокомощная система лазерного старения LDBI 00:34

Многоканальная высокомощная система лазерного старения LDBI
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
18V/1A Четырехканальная подкарточная установка измерения источника импульса CBI403 00:28

18V/1A Четырехканальная подкарточная установка измерения источника импульса CBI403
Многоканальное испытательное оборудование
February 24, 2025
ПРЕЧЕННЫЙ Инструмент. Источник исследования Внутренняя и внешняя согласованность. 01:24

ПРЕЧЕННЫЙ Инструмент. Источник исследования Внутренняя и внешняя согласованность.
Другие видео
February 17, 2025
Анализатор параметров полупроводников 1200В/100А SPA6100 00:36

Анализатор параметров полупроводников 1200В/100А SPA6100
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
10V/1A Четырехканальная подкарточная система измерения источника импульса CBI402 00:24

10V/1A Четырехканальная подкарточная система измерения источника импульса CBI402
Многоканальное испытательное оборудование
February 24, 2025
3500 В/100 мА Высоковольтный источник питания E300 00:24

3500 В/100 мА Высоковольтный источник питания E300
Источник питания высокого напряжения
February 25, 2025