Видеоканал Китая Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
контактные данные
Домой Видео Список воспроизведений Сайт

Многоканальная высокомощная система лазерного старения LDBI

Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
Keyword: Системы испытаний полупроводников
контактные данные
Тэги:
#Испытания транзисторов igbt #ИГБТ-мосфетный тестер #Полупроводниковый кривой следопыт
Video Description:
Discover the LDBI Multi-Channel High-Power Laser Aging System, designed for kilowatt-level semiconductor laser chips and pump modules. This innovative system features high-current narrow pulse testing, dual protection circuits, and water-cooled technology for precise aging tests.
Связанные видео
Система испытаний датчиков тока 1000A CTMS 00:24

Система испытаний датчиков тока 1000A CTMS
Системы испытаний полупроводников
February 25, 2025
10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников 00:30

10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников
Системы испытаний полупроводников
February 25, 2025
S300 Измерительный блок источника постоянного тока 300В/1А для испытаний электрических характеристик 00:24

S300 Измерительный блок источника постоянного тока 300В/1А для испытаний электрических характеристик
Блок измерения источника
February 24, 2025
1200V/100mA Высоковольтный источник питания для испытания разрывного напряжения IGBT 00:24

1200V/100mA Высоковольтный источник питания для испытания разрывного напряжения IGBT
Источник питания высокого напряжения
February 24, 2025
1000A/18V высоковольтный импульсный источник питания HCPL100 для испытания SiC/IGBT/GaN HEMT 00:24

1000A/18V высоковольтный импульсный источник питания HCPL100 для испытания SiC/IGBT/GaN HEMT
Блок измерения источника
February 24, 2025
30V/30A Двуканальный источник DP100B с измерением напряжения/тока и четырьмя квадрантами 00:24

30V/30A Двуканальный источник DP100B с измерением напряжения/тока и четырьмя квадрантами
Двуканальный источник измерения
February 24, 2025
100 В / 1 А / 10 А Пулсовый источник P200 для характеристики полупроводников 00:24

100 В / 1 А / 10 А Пулсовый источник P200 для характеристики полупроводников
Блок измерения источника
February 24, 2025
ПРЕЧЕННЫЙ Инструмент. Источник исследования Внутренняя и внешняя согласованность. 01:24

ПРЕЧЕННЫЙ Инструмент. Источник исследования Внутренняя и внешняя согласованность.
Другие видео
February 16, 2025
10V/500mA Четырехканальная подкарта постоянного тока источника измерения CS401 00:26

10V/500mA Четырехканальная подкарта постоянного тока источника измерения CS401
Многоканальное испытательное оборудование
February 24, 2025
18V/1A Четырехканальная подкарта источника постоянного тока Измерительная единица CS402 00:27

18V/1A Четырехканальная подкарта источника постоянного тока Измерительная единица CS402
Блок измерения источника
February 24, 2025