Видеоканал Китая Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
контактные данные
Домой Видео Список воспроизведений Сайт

Карта сбора данных A400 с 16-разрядным разрешением ADC и скоростью отбора проб 1 Мс/с

Карта сбора данных
February 26, 2025
Keyword: Карта сбора данных
контактные данные
Тэги:
#высокоскоростная карта получения данных #Высокоскоростная карта Daq #pxi SMU
Video Description:
Discover the A400 Data Acquisition Card, featuring 16-bit ADC resolution and a 1MS/s sampling rate. With 4 channels per card and up to 40 channels per host, it offers excellent galvanic isolation, overvoltage protection, and high-precision signal acquisition for complex electrical environments.
Связанные видео
60A CW/600A QCW Испытание высокой мощности лазерного источника питания HCPL060 00:24

60A CW/600A QCW Испытание высокой мощности лазерного источника питания HCPL060
Испытание питания лазера
February 25, 2025
300В/1А одноканальная подкарта источника постоянного тока 00:24

300В/1А одноканальная подкарта источника постоянного тока
Многоканальное испытательное оборудование
February 24, 2025
10V/1A Четырехканальная подкарточная система измерения источника импульса CBI402 00:24

10V/1A Четырехканальная подкарточная система измерения источника импульса CBI402
Многоканальное испытательное оборудование
February 24, 2025
100В/1А одноканальная подкарта постоянного тока источника измерения CS200 00:24

100В/1А одноканальная подкарта постоянного тока источника измерения CS200
Многоканальное испытательное оборудование
February 24, 2025
100 В / 1 А / 10 А Пулсовый источник P200 для характеристики полупроводников 00:24

100 В / 1 А / 10 А Пулсовый источник P200 для характеристики полупроводников
Блок измерения источника
February 24, 2025
Измерительный блок высокого тока источника импульса HCP100 с максимальным выходном током импульса 30A и максимальным выходном напряжением 50V 00:24

Измерительный блок высокого тока источника импульса HCP100 с максимальным выходном током импульса 30A и максимальным выходном напряжением 50V
Блок измерения источника
February 24, 2025
20A CW/20A QCW Испытание высокой мощности лазерного источника питания HCPL002 00:24

20A CW/20A QCW Испытание высокой мощности лазерного источника питания HCPL002
Испытание питания лазера
February 25, 2025
Анализатор параметров полупроводников 1200В/100А SPA6100 00:36

Анализатор параметров полупроводников 1200В/100А SPA6100
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
300A/30V высоковольтный импульсный источник питания HCPL030 для SiC/IGBT/GaN HEMT испытания 00:24

300A/30V высоковольтный импульсный источник питания HCPL030 для SiC/IGBT/GaN HEMT испытания
Силовое питание высокого тока
February 25, 2025
10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников 00:30

10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025