Видеоканал Китая Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
контактные данные
Домой Видео Список воспроизведений Сайт

2 MS/s Многоканальная карта получения данных A400B Board Высокая скорость

Блок измерения источника
February 26, 2025
Keyword: Карта сбора данных
контактные данные
Тэги:
#высокоскоростная карта получения данных #Высокоскоростная карта Daq #pxi SMU
Video Description:
Discover the A400B High Speed Data Acquisition Card, a 2MS/s multi-channel PXI SMU solution for high-precision signal acquisition. With 4 isolated channels, 16-bit ADC resolution, and 128MB storage, it's perfect for complex electrical environments and fast-changing signals.
Связанные видео
1000A/18V высоковольтный импульсный источник питания HCPL100 для испытания SiC/IGBT/GaN HEMT 00:24

1000A/18V высоковольтный импульсный источник питания HCPL100 для испытания SiC/IGBT/GaN HEMT
Блок измерения источника
February 25, 2025
S300 Измерительный блок источника постоянного тока 300В/1А для испытаний электрических характеристик 00:24

S300 Измерительный блок источника постоянного тока 300В/1А для испытаний электрических характеристик
Блок измерения источника
February 24, 2025
60A CW/600A QCW Испытание высокой мощности лазерного источника питания HCPL060 00:24

60A CW/600A QCW Испытание высокой мощности лазерного источника питания HCPL060
Испытание питания лазера
February 25, 2025
300В/1А одноканальная подкарта источника постоянного тока 00:24

300В/1А одноканальная подкарта источника постоянного тока
Многоканальное испытательное оборудование
February 24, 2025
10V/1A Четырехканальная подкарточная система измерения источника импульса CBI402 00:24

10V/1A Четырехканальная подкарточная система измерения источника импульса CBI402
Многоканальное испытательное оборудование
February 24, 2025
100В/1А одноканальная подкарта постоянного тока источника измерения CS200 00:24

100В/1А одноканальная подкарта постоянного тока источника измерения CS200
Многоканальное испытательное оборудование
February 24, 2025
20A CW/20A QCW Испытание высокой мощности лазерного источника питания HCPL002 00:24

20A CW/20A QCW Испытание высокой мощности лазерного источника питания HCPL002
Испытание питания лазера
February 25, 2025
Анализатор параметров полупроводников 1200В/100А SPA6100 00:36

Анализатор параметров полупроводников 1200В/100А SPA6100
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
300A/30V высоковольтный импульсный источник питания HCPL030 для SiC/IGBT/GaN HEMT испытания 00:24

300A/30V высоковольтный импульсный источник питания HCPL030 для SiC/IGBT/GaN HEMT испытания
Силовое питание высокого тока
February 25, 2025
10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников 00:30

10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025