Видеоканал Китая Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
контактные данные
Домой Видео Список воспроизведений Сайт

10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников

Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
Keyword: Системы испытаний полупроводников
контактные данные
Тэги:
#Испытания транзисторов igbt #ИГБТ-мосфетный тестер #Полупроводниковый кривой следопыт
Video Description:
Discover the 10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test PMST, designed for precise testing of MOSFETs, BJTs, IGBTs, and SiC/GaN semiconductors. This high-voltage, high-current system offers μΩ-level precision, nA-level current measurement, and modular flexibility for evolving testing needs.
Связанные видео
Многоканальная высокомощная система лазерного старения LDBI 00:34

Многоканальная высокомощная система лазерного старения LDBI
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
Система испытаний датчиков тока 1000A CTMS 00:24

Система испытаний датчиков тока 1000A CTMS
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
60A CW/600A QCW Испытание высокой мощности лазерного источника питания HCPL060 00:24

60A CW/600A QCW Испытание высокой мощности лазерного источника питания HCPL060
Испытание питания лазера
February 25, 2025
300В/1А одноканальная подкарта источника постоянного тока 00:24

300В/1А одноканальная подкарта источника постоянного тока
Многоканальное испытательное оборудование
February 24, 2025
10V/1A Четырехканальная подкарточная система измерения источника импульса CBI402 00:24

10V/1A Четырехканальная подкарточная система измерения источника импульса CBI402
Многоканальное испытательное оборудование
February 24, 2025
100В/1А одноканальная подкарта постоянного тока источника измерения CS200 00:24

100В/1А одноканальная подкарта постоянного тока источника измерения CS200
Многоканальное испытательное оборудование
February 24, 2025
100 В / 1 А / 10 А Пулсовый источник P200 для характеристики полупроводников 00:24

100 В / 1 А / 10 А Пулсовый источник P200 для характеристики полупроводников
Блок измерения источника
February 24, 2025
Измерительный блок высокого тока источника импульса HCP100 с максимальным выходном током импульса 30A и максимальным выходном напряжением 50V 00:24

Измерительный блок высокого тока источника импульса HCP100 с максимальным выходном током импульса 30A и максимальным выходном напряжением 50V
Блок измерения источника
February 24, 2025
20A CW/20A QCW Испытание высокой мощности лазерного источника питания HCPL002 00:24

20A CW/20A QCW Испытание высокой мощности лазерного источника питания HCPL002
Испытание питания лазера
February 25, 2025
300A/30V высоковольтный импульсный источник питания HCPL030 для SiC/IGBT/GaN HEMT испытания 00:24

300A/30V высоковольтный импульсный источник питания HCPL030 для SiC/IGBT/GaN HEMT испытания
Силовое питание высокого тока
February 25, 2025