Видеоканал Китая Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Чат Свяжитесь мы
Домой Видео Список воспроизведений О нас Официальный сайт
русский
English
French
German
Italian
Russian
Spanish
Portuguese
Dutch
Greek
Japanese
Korean
Polish
Persian
Bengali
Thai
Vietnamese
Arabic
Hindi
Turkish
Indonesian
loading

Многоканальная высокомощная система лазерного старения LDBI

Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
Чат
Внедрение многоканальной высокомощной лазерной системы LDBI, предназначенной для тестирования высокомощных полупроводниковых лазерных чипов на уровне киловатт и насосных лазерных модулей.с высоким током узкого импульса постоянного тока,устойчивый ток, сильная антиинтерференция и двойные защитные схемы, с 16 независимыми каналами и водоохлаждаемым устройством сбора света, идеально подходит для испытаний полупроводниковых силовых устройств,исследования материалов и испытания компонентов электротехники для новых энергетических транспортных средствДобро пожаловать на наш сайт!
Системы испытаний полупроводников
Связанные видео
Система испытаний датчиков тока 1000A CTMS 00:24
Система испытаний датчиков тока 1000A CTMS

Система испытаний датчиков тока 1000A CTMS
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников 00:30
10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников

10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
300A/30V высоковольтный импульсный источник питания HCPL030 для SiC/IGBT/GaN HEMT испытания 00:24
300A/30V высоковольтный импульсный источник питания HCPL030 для SiC/IGBT/GaN HEMT испытания

300A/30V высоковольтный импульсный источник питания HCPL030 для SiC/IGBT/GaN HEMT испытания
Силовое питание высокого тока
February 25, 2025
2 MS/s Многоканальная карта получения данных A400B Board Высокая скорость 00:27
2 MS/s Многоканальная карта получения данных A400B Board Высокая скорость

2 MS/s Многоканальная карта получения данных A400B Board Высокая скорость
Блок измерения источника
February 26, 2025
ПРЕЧЕННЫЙ Инструмент. Источник исследования Внутренняя и внешняя согласованность. 01:24
ПРЕЧЕННЫЙ Инструмент. Источник исследования Внутренняя и внешняя согласованность.

ПРЕЧЕННЫЙ Инструмент. Источник исследования Внутренняя и внешняя согласованность.
Другие видео
February 17, 2025
30V/1A/10A Испытание полупроводников Четырехквадрантной операции Импульсный источник измерения P100 00:24
30V/1A/10A Испытание полупроводников Четырехквадрантной операции Импульсный источник измерения P100

30V/1A/10A Испытание полупроводников Четырехквадрантной операции Импульсный источник измерения P100
Блок измерения источника
February 24, 2025
100 В/100 А высокопоточный импульс источника измерения HCP300 для IGBT 00:25
100 В/100 А высокопоточный импульс источника измерения HCP300 для IGBT

100 В/100 А высокопоточный импульс источника измерения HCP300 для IGBT
Блок измерения источника
February 24, 2025
Двуканальный источник 300V/30A DP300B для различных испытаний электрических характеристик 00:24
Двуканальный источник 300V/30A DP300B для различных испытаний электрических характеристик

Двуканальный источник 300V/30A DP300B для различных испытаний электрических характеристик
Двуканальный источник измерения
February 24, 2025
S300 Измерительный блок источника постоянного тока 300В/1А для испытаний электрических характеристик 00:24
S300 Измерительный блок источника постоянного тока 300В/1А для испытаний электрических характеристик

S300 Измерительный блок источника постоянного тока 300В/1А для испытаний электрических характеристик
Блок измерения источника
February 24, 2025
Карта сбора данных A400 с 16-разрядным разрешением ADC и скоростью отбора проб 1 Мс/с 00:24
Карта сбора данных A400 с 16-разрядным разрешением ADC и скоростью отбора проб 1 Мс/с

Карта сбора данных A400 с 16-разрядным разрешением ADC и скоростью отбора проб 1 Мс/с
Карта сбора данных
February 26, 2025