Видеоканал Китая Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Чат Свяжитесь мы
Домой Видео Список воспроизведений О нас Официальный сайт
русский
English
French
German
Italian
Russian
Spanish
Portuguese
Dutch
Greek
Japanese
Korean
Polish
Persian
Bengali
Thai
Vietnamese
Arabic
Hindi
Turkish
Indonesian
loading

10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников

Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
Чат
Введение PMST, 10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System, предназначенной для точного тестирования MOSFET, BJT, IGBT и SiC GaN полупроводников,с характеристикой высокого напряжения и высокого тока, точные измерения на уровне μΩ и возможности измерения тока на уровне nA, поддерживающие измерения емкости соединения и модульную конфигурацию для гибких испытаний,Добро пожаловать на наш сайт!
Системы испытаний полупроводников
Связанные видео
Многоканальная высокомощная система лазерного старения LDBI 00:34
Многоканальная высокомощная система лазерного старения LDBI

Многоканальная высокомощная система лазерного старения LDBI
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
Система испытаний датчиков тока 1000A CTMS 00:24
Система испытаний датчиков тока 1000A CTMS

Система испытаний датчиков тока 1000A CTMS
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
ПРЕЧЕННЫЙ Инструмент. Источник исследования Внутренняя и внешняя согласованность. 01:24
ПРЕЧЕННЫЙ Инструмент. Источник исследования Внутренняя и внешняя согласованность.

ПРЕЧЕННЫЙ Инструмент. Источник исследования Внутренняя и внешняя согласованность.
Другие видео
February 17, 2025
300V/4A/30A Измерительный блок источника импульса P300B для полупроводников и материалов 00:24
300V/4A/30A Измерительный блок источника импульса P300B для полупроводников и материалов

300V/4A/30A Измерительный блок источника импульса P300B для полупроводников и материалов
Блок измерения источника
February 24, 2025
300V/3A Испытание полупроводников, измерение источника постоянного тока S300B 00:24
300V/3A Испытание полупроводников, измерение источника постоянного тока S300B

300V/3A Испытание полупроводников, измерение источника постоянного тока S300B
Блок измерения источника
February 24, 2025
300V/1A/10A Испытание полупроводников Четырехквадрантное действие Пулсовый источник P300 00:24
300V/1A/10A Испытание полупроводников Четырехквадрантное действие Пулсовый источник P300

300V/1A/10A Испытание полупроводников Четырехквадрантное действие Пулсовый источник P300
Блок измерения источника
February 24, 2025
Испытание электрических характеристик полупроводников 30V/1A источник постоянного тока единицы измерения S100 00:36
Испытание электрических характеристик полупроводников 30V/1A источник постоянного тока единицы измерения S100

Испытание электрических характеристик полупроводников 30V/1A источник постоянного тока единицы измерения S100
Блок измерения источника
February 24, 2025
1200V/100mA Высоковольтный источник питания для испытания разрывного напряжения IGBT 00:24
1200V/100mA Высоковольтный источник питания для испытания разрывного напряжения IGBT

1200V/100mA Высоковольтный источник питания для испытания разрывного напряжения IGBT
Источник питания высокого напряжения
February 25, 2025
1000A/18V высоковольтный импульсный источник питания HCPL100 для испытания SiC/IGBT/GaN HEMT 00:24
1000A/18V высоковольтный импульсный источник питания HCPL100 для испытания SiC/IGBT/GaN HEMT

1000A/18V высоковольтный импульсный источник питания HCPL100 для испытания SiC/IGBT/GaN HEMT
Блок измерения источника
February 25, 2025
Двуканальный источник 300V/30A DP300B для различных испытаний электрических характеристик 00:24
Двуканальный источник 300V/30A DP300B для различных испытаний электрических характеристик

Двуканальный источник 300V/30A DP300B для различных испытаний электрических характеристик
Двуканальный источник измерения
February 24, 2025