Видеоканал Китая Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Чат Свяжитесь мы
Домой Видео Список воспроизведений О нас Официальный сайт
русский
English
French
German
Italian
Russian
Spanish
Portuguese
Dutch
Greek
Japanese
Korean
Polish
Persian
Bengali
Thai
Vietnamese
Arabic
Hindi
Turkish
Indonesian
loading

30V/1A/10A Испытание полупроводников Четырехквадрантной операции Импульсный источник измерения P100

Блок измерения источника
February 24, 2025
Чат
, и интуитивное цифровое сенсорное управление, с 30V / 1A / 10A четырёхквадрантной работой, разрешением 1pA и минимальной шириной импульса 200μs, идеально подходит для полупроводниковых инноваций, новой энергетики, сенсорных технологий,и продвинутые исследования материалов, добро пожаловать на наш сайт!
Блок измерения источника
Связанные видео
2 MS/s Многоканальная карта получения данных A400B Board Высокая скорость 00:27
2 MS/s Многоканальная карта получения данных A400B Board Высокая скорость

2 MS/s Многоканальная карта получения данных A400B Board Высокая скорость
Блок измерения источника
February 26, 2025
1000A/18V высоковольтный импульсный источник питания HCPL100 для испытания SiC/IGBT/GaN HEMT 00:24
1000A/18V высоковольтный импульсный источник питания HCPL100 для испытания SiC/IGBT/GaN HEMT

1000A/18V высоковольтный импульсный источник питания HCPL100 для испытания SiC/IGBT/GaN HEMT
Блок измерения источника
February 25, 2025
S300 Измерительный блок источника постоянного тока 300В/1А для испытаний электрических характеристик 00:24
S300 Измерительный блок источника постоянного тока 300В/1А для испытаний электрических характеристик

S300 Измерительный блок источника постоянного тока 300В/1А для испытаний электрических характеристик
Блок измерения источника
February 24, 2025
10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников 00:30
10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников

10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
Система испытаний датчиков тока 1000A CTMS 00:24
Система испытаний датчиков тока 1000A CTMS

Система испытаний датчиков тока 1000A CTMS
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
300A/30V высоковольтный импульсный источник питания HCPL030 для SiC/IGBT/GaN HEMT испытания 00:24
300A/30V высоковольтный импульсный источник питания HCPL030 для SiC/IGBT/GaN HEMT испытания

300A/30V высоковольтный импульсный источник питания HCPL030 для SiC/IGBT/GaN HEMT испытания
Силовое питание высокого тока
February 25, 2025
Многоканальная высокомощная система лазерного старения LDBI 00:34
Многоканальная высокомощная система лазерного старения LDBI

Многоканальная высокомощная система лазерного старения LDBI
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
ПРЕЧЕННЫЙ Инструмент. Источник исследования Внутренняя и внешняя согласованность. 01:24
ПРЕЧЕННЫЙ Инструмент. Источник исследования Внутренняя и внешняя согласованность.

ПРЕЧЕННЫЙ Инструмент. Источник исследования Внутренняя и внешняя согласованность.
Другие видео
February 17, 2025
Анализатор параметров полупроводников 1200В/100А SPA6100 00:36
Анализатор параметров полупроводников 1200В/100А SPA6100

Анализатор параметров полупроводников 1200В/100А SPA6100
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
Двуканальный источник 300V/30A DP300B для различных испытаний электрических характеристик 00:24
Двуканальный источник 300V/30A DP300B для различных испытаний электрических характеристик

Двуканальный источник 300V/30A DP300B для различных испытаний электрических характеристик
Двуканальный источник измерения
February 24, 2025