Видеоканал Китая Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Чат Свяжитесь мы
Домой Видео Список воспроизведений О нас Официальный сайт
русский
English
French
German
Italian
Russian
Spanish
Portuguese
Dutch
Greek
Japanese
Korean
Polish
Persian
Bengali
Thai
Vietnamese
Arabic
Hindi
Turkish
Indonesian
loading

Система испытаний датчиков тока 1000A CTMS

Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
Чат
Внедрение системы испытаний датчиков тока 1000 А CTMS, всеобъемлющей платформы для измерения статических и динамических параметров различных датчиков тока с высокими характеристиками тока,быстро поднимающиеся края, и точные измерения, идеально подходят для университетских исследований, лабораторий и промышленных приложений, добро пожаловать на наш сайт!
Системы испытаний полупроводников
Связанные видео
Многоканальная высокомощная система лазерного старения LDBI 00:34
Многоканальная высокомощная система лазерного старения LDBI

Многоканальная высокомощная система лазерного старения LDBI
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников 00:30
10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников

10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
ПРЕЧЕННЫЙ Инструмент. Источник исследования Внутренняя и внешняя согласованность. 01:24
ПРЕЧЕННЫЙ Инструмент. Источник исследования Внутренняя и внешняя согласованность.

ПРЕЧЕННЫЙ Инструмент. Источник исследования Внутренняя и внешняя согласованность.
Другие видео
February 17, 2025
300V/4A/30A Измерительный блок источника импульса P300B для полупроводников и материалов 00:24
300V/4A/30A Измерительный блок источника импульса P300B для полупроводников и материалов

300V/4A/30A Измерительный блок источника импульса P300B для полупроводников и материалов
Блок измерения источника
February 24, 2025
300V/3A Испытание полупроводников, измерение источника постоянного тока S300B 00:24
300V/3A Испытание полупроводников, измерение источника постоянного тока S300B

300V/3A Испытание полупроводников, измерение источника постоянного тока S300B
Блок измерения источника
February 24, 2025
300V/1A/10A Испытание полупроводников Четырехквадрантное действие Пулсовый источник P300 00:24
300V/1A/10A Испытание полупроводников Четырехквадрантное действие Пулсовый источник P300

300V/1A/10A Испытание полупроводников Четырехквадрантное действие Пулсовый источник P300
Блок измерения источника
February 24, 2025
Испытание электрических характеристик полупроводников 30V/1A источник постоянного тока единицы измерения S100 00:36
Испытание электрических характеристик полупроводников 30V/1A источник постоянного тока единицы измерения S100

Испытание электрических характеристик полупроводников 30V/1A источник постоянного тока единицы измерения S100
Блок измерения источника
February 24, 2025
1200V/100mA Высоковольтный источник питания для испытания разрывного напряжения IGBT 00:24
1200V/100mA Высоковольтный источник питания для испытания разрывного напряжения IGBT

1200V/100mA Высоковольтный источник питания для испытания разрывного напряжения IGBT
Источник питания высокого напряжения
February 25, 2025
1000A/18V высоковольтный импульсный источник питания HCPL100 для испытания SiC/IGBT/GaN HEMT 00:24
1000A/18V высоковольтный импульсный источник питания HCPL100 для испытания SiC/IGBT/GaN HEMT

1000A/18V высоковольтный импульсный источник питания HCPL100 для испытания SiC/IGBT/GaN HEMT
Блок измерения источника
February 25, 2025
Двуканальный источник 300V/30A DP300B для различных испытаний электрических характеристик 00:24
Двуканальный источник 300V/30A DP300B для различных испытаний электрических характеристик

Двуканальный источник 300V/30A DP300B для различных испытаний электрических характеристик
Двуканальный источник измерения
February 24, 2025