Испытание электрических характеристик полупроводников 30V/1A источник постоянного тока единицы измерения S100
Представляем S100, 30V / 1A полупроводниковый электрические характеристики тестирования постоянного тока источника измерения, предлагая высокую точность, широкий динамический диапазон и инновационный цифровой дизайн сенсорного,с такими характеристиками, как обеспечение точности измерений, функциональность "все в одном", высокое разрешение, четырехквартальная работа и богатые интерфейсы для легкой интеграции, идеально подходят для испытаний полупроводников, исследования материалов, испытаний электронных компонентов,исследования и образование, и автоматизированные системы тестирования, добро пожаловать на наш сайт!
Блок измерения источника
-
Испытание электрических характеристик полупроводников SMU S100 DC 30V 1A SMU Измерение
Контакт -
Измеритель источника импульса P300 300V 1A 10A Измеритель источника полупроводников
Контакт -
30В 4А 30А Измеритель источника импульса P100B Источникомер для полупроводниковых устройств
Контакт -
Полупроводники Измеритель источника 100В 1А 10А Измеритель источника импульса P200
Контакт -
30В 1А 10А P100 Источникомер Четырехквадрантной операции Импульс источника измерения
Контакт
Связанные видео
2 MS/s Многоканальная карта получения данных A400B Board Высокая скорость
Блок измерения источника
February 26, 2025
1000A/18V высоковольтный импульсный источник питания HCPL100 для испытания SiC/IGBT/GaN HEMT
Блок измерения источника
February 25, 2025
S300 Измерительный блок источника постоянного тока 300В/1А для испытаний электрических характеристик
Блок измерения источника
February 24, 2025
10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
Многоканальная высокомощная система лазерного старения LDBI
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
ПРЕЧЕННЫЙ Инструмент. Источник исследования Внутренняя и внешняя согласованность.
Другие видео
February 17, 2025
Анализатор параметров полупроводников 1200В/100А SPA6100
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
Двуканальный источник 300V/30A DP300B для различных испытаний электрических характеристик
Двуканальный источник измерения
February 24, 2025
Карта сбора данных A400 с 16-разрядным разрешением ADC и скоростью отбора проб 1 Мс/с
Карта сбора данных
February 26, 2025
