8000V/40mA Высоковольтный источник питания E800
, с ответами на уровне миллисекунд и низкой генерацией тепла, выходом высокого напряжения и испытаниями на широком диапазоне, гибким выходом и разнообразным сканированием и интеллектуальным ограничением тока для безопасности.Идеально подходит для испытаний разрывного напряжения IGBT, IGBT старения источников питания, светодиод защиты от молнии выдерживают испытания напряжения, и варистор выдерживают испытания напряжения. Добро пожаловать на наш сайт!
Источник питания высокого напряжения
-
8000V 40mA Высоковольтный источник питания E800 Для испытания SiC / IGBT / GaN HEMT
Контакт -
2200V 100mA Высоковольтный источник питания E200 Постоянный источник питания
Контакт -
3500V/100mA Высоковольтный источник питания E300 Высоковольтный источник питания
Контакт -
1200V 100mA Средство измерения высоковольтного источника питания для испытания разрыва IGBT
Контакт -
10V 500mA PXI Источник измерения Устройство подкарты Импульс PXI SMU Устройство CBI401
Контакт
Связанные видео
3500 В/100 мА Высоковольтный источник питания E300
Источник питания высокого напряжения
February 25, 2025
2200V/100mA Высоковольтный источник питания E200
Источник питания высокого напряжения
February 25, 2025
100 В/100 А высокопоточный импульс источника измерения HCP300 для IGBT
Блок измерения источника
February 24, 2025
Двуканальный источник 300V/30A DP300B для различных испытаний электрических характеристик
Двуканальный источник измерения
February 24, 2025
S300 Измерительный блок источника постоянного тока 300В/1А для испытаний электрических характеристик
Блок измерения источника
February 24, 2025
Карта сбора данных A400 с 16-разрядным разрешением ADC и скоростью отбора проб 1 Мс/с
Карта сбора данных
February 26, 2025
Испытание электрических характеристик полупроводников 30V/1A источник постоянного тока единицы измерения S100
Блок измерения источника
February 24, 2025
ПРЕЧЕННЫЙ Инструмент. Источник исследования Внутренняя и внешняя согласованность.
Другие видео
February 17, 2025
10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
Многоканальная высокомощная система лазерного старения LDBI
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025