30V/30A Двуканальный источник DP100B с измерением напряжения/тока и четырьмя квадрантами
, идеально подходит для тестирования характеристик дискретных полупроводниковых устройств, энергетических и эффективных испытаний и многого другого!
Двуканальный источник измерения
-
30V 30A Двуканальный источник измерения DP100B с измерением напряжения / тока
Контакт -
100В 30А Двуканальный источник измерения DP200B
Контакт -
300V 30A Двухисточник Счетчик DP300B SMU Измерение для испытания электрических характеристик
Контакт -
10V 500mA PXI Источник измерения Устройство подкарты Импульс PXI SMU Устройство CBI401
Контакт -
Измеритель источника импульса P300 300V 1A 10A Измеритель источника полупроводников
Контакт
Связанные видео
Двуканальный источник 300V/30A DP300B для различных испытаний электрических характеристик
Двуканальный источник измерения
February 24, 2025
100В/30А Двуканальный источник DP200B для BJT-испытания
Двуканальный источник измерения
February 24, 2025
10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
300A/30V высоковольтный импульсный источник питания HCPL030 для SiC/IGBT/GaN HEMT испытания
Силовое питание высокого тока
February 25, 2025
2 MS/s Многоканальная карта получения данных A400B Board Высокая скорость
Блок измерения источника
February 26, 2025
Многоканальная высокомощная система лазерного старения LDBI
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
ПРЕЧЕННЫЙ Инструмент. Источник исследования Внутренняя и внешняя согласованность.
Другие видео
February 17, 2025
Анализатор параметров полупроводников 1200В/100А SPA6100
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
30V/1A/10A Испытание полупроводников Четырехквадрантной операции Импульсный источник измерения P100
Блок измерения источника
February 24, 2025