300В/1А одноканальная подкарта источника постоянного тока
Идеально подходит для тестирования полупроводниковых устройств, исследования наноматериалов,проверка энергоэффективности устройстваДобро пожаловать на наш сайт!
Многоканальное испытательное оборудование
-
300В 1А модульный SMU блок одноканальная подкарта источника постоянного тока измерение CS300
Контакт -
10V 500mA PXI Источник измерения Устройство подкарты Импульс PXI SMU Устройство CBI401
Контакт -
18V 1A Четырехканальная подкарточка Измерение источника импульса CBI403 SMU
Контакт -
10В 1А PXI SMU 4 канала подкарты импульс SMU источник единицы измерения CBI402
Контакт -
18V 1A PXI SMU Четырехканальная подкарта источника постоянного тока
Контакт
Связанные видео
10V/500mA Четырехканальная подкарта постоянного тока источника измерения CS401
Многоканальное испытательное оборудование
February 24, 2025
10V/500mA Четырехканальная подкарточная установка измерения источника импульса CBI401
Многоканальное испытательное оборудование
February 24, 2025
10V/1A Четырехканальная подкарточная система измерения источника импульса CBI402
Многоканальное испытательное оборудование
February 24, 2025
10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
300A/30V высоковольтный импульсный источник питания HCPL030 для SiC/IGBT/GaN HEMT испытания
Силовое питание высокого тока
February 25, 2025
2 MS/s Многоканальная карта получения данных A400B Board Высокая скорость
Блок измерения источника
February 26, 2025
Многоканальная высокомощная система лазерного старения LDBI
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
ПРЕЧЕННЫЙ Инструмент. Источник исследования Внутренняя и внешняя согласованность.
Другие видео
February 17, 2025
Анализатор параметров полупроводников 1200В/100А SPA6100
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025