Видеоканал Китая Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
контактные данные
Домой Видео Список воспроизведений Сайт

300V/3A Испытание полупроводников, измерение источника постоянного тока S300B

Блок измерения источника
February 24, 2025
Keyword: Блок измерения источника
контактные данные
Тэги:
#единица источника #Единица измерения источника #Единица измерения точного источника
Video Description:
Discover the Semiconductor Precision Source Measure Unit S300B, a high-performance 300V/3A DC source meter designed for advanced semiconductor testing. Featuring ultra-sensitive current resolution down to 10pA and four-quadrant operation, it's perfect for R&D, quality assurance, and next-gen technology development.
Связанные видео
2 MS/s Многоканальная карта получения данных A400B Board Высокая скорость 00:27

2 MS/s Многоканальная карта получения данных A400B Board Высокая скорость
Блок измерения источника
February 26, 2025
1000A/18V высоковольтный импульсный источник питания HCPL100 для испытания SiC/IGBT/GaN HEMT 00:24

1000A/18V высоковольтный импульсный источник питания HCPL100 для испытания SiC/IGBT/GaN HEMT
Блок измерения источника
February 25, 2025
S300 Измерительный блок источника постоянного тока 300В/1А для испытаний электрических характеристик 00:24

S300 Измерительный блок источника постоянного тока 300В/1А для испытаний электрических характеристик
Блок измерения источника
February 24, 2025
60A CW/600A QCW Испытание высокой мощности лазерного источника питания HCPL060 00:24

60A CW/600A QCW Испытание высокой мощности лазерного источника питания HCPL060
Испытание питания лазера
February 25, 2025
300В/1А одноканальная подкарта источника постоянного тока 00:24

300В/1А одноканальная подкарта источника постоянного тока
Многоканальное испытательное оборудование
February 24, 2025
10V/1A Четырехканальная подкарточная система измерения источника импульса CBI402 00:24

10V/1A Четырехканальная подкарточная система измерения источника импульса CBI402
Многоканальное испытательное оборудование
February 24, 2025
100В/1А одноканальная подкарта постоянного тока источника измерения CS200 00:24

100В/1А одноканальная подкарта постоянного тока источника измерения CS200
Многоканальное испытательное оборудование
February 24, 2025
20A CW/20A QCW Испытание высокой мощности лазерного источника питания HCPL002 00:24

20A CW/20A QCW Испытание высокой мощности лазерного источника питания HCPL002
Испытание питания лазера
February 25, 2025
Анализатор параметров полупроводников 1200В/100А SPA6100 00:36

Анализатор параметров полупроводников 1200В/100А SPA6100
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
300A/30V высоковольтный импульсный источник питания HCPL030 для SiC/IGBT/GaN HEMT испытания 00:24

300A/30V высоковольтный импульсный источник питания HCPL030 для SiC/IGBT/GaN HEMT испытания
Силовое питание высокого тока
February 25, 2025