Видеоканал Китая Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
контактные данные
Домой Видео Список воспроизведений Сайт

100 В/100 А высокопоточный импульс источника измерения HCP300 для IGBT

Блок измерения источника
February 24, 2025
Keyword: Блок измерения источника
контактные данные
Тэги:
#единица источника #Единица измерения источника #Единица измерения точного источника
Video Description:
Discover the HCP300 High Current Pulse Source Measure Unit, designed for IGBT testing with 100V/100A capabilities. Ideal for solar cell modules and RF devices, it offers 0.1% accuracy and a 250k sampling rate. Perfect for high-power device testing and semiconductor performance analysis.
Связанные видео
2 MS/s Многоканальная карта получения данных A400B Board Высокая скорость 00:27

2 MS/s Многоканальная карта получения данных A400B Board Высокая скорость
Блок измерения источника
February 26, 2025
1000A/18V высоковольтный импульсный источник питания HCPL100 для испытания SiC/IGBT/GaN HEMT 00:24

1000A/18V высоковольтный импульсный источник питания HCPL100 для испытания SiC/IGBT/GaN HEMT
Блок измерения источника
February 24, 2025
300V/3A Испытание полупроводников, измерение источника постоянного тока S300B 00:24

300V/3A Испытание полупроводников, измерение источника постоянного тока S300B
Блок измерения источника
February 24, 2025
Анализатор параметров полупроводников 1200В/100А SPA6100 00:36

Анализатор параметров полупроводников 1200В/100А SPA6100
Системы испытаний полупроводников
February 25, 2025
Система испытаний датчиков тока 1000A CTMS 00:24

Система испытаний датчиков тока 1000A CTMS
Системы испытаний полупроводников
February 25, 2025
1200V/100mA Высоковольтный источник питания для испытания разрывного напряжения IGBT 00:24

1200V/100mA Высоковольтный источник питания для испытания разрывного напряжения IGBT
Источник питания высокого напряжения
February 24, 2025
10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников 00:30

10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников
Системы испытаний полупроводников
February 25, 2025
30V/30A Двуканальный источник DP100B с измерением напряжения/тока и четырьмя квадрантами 00:24

30V/30A Двуканальный источник DP100B с измерением напряжения/тока и четырьмя квадрантами
Двуканальный источник измерения
February 24, 2025
ПРЕЧЕННЫЙ Инструмент. Источник исследования Внутренняя и внешняя согласованность. 01:24

ПРЕЧЕННЫЙ Инструмент. Источник исследования Внутренняя и внешняя согласованность.
Другие видео
February 16, 2025
10V/500mA Четырехканальная подкарта постоянного тока источника измерения CS401 00:26

10V/500mA Четырехканальная подкарта постоянного тока источника измерения CS401
Многоканальное испытательное оборудование
February 24, 2025