Видеоканал Китая Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Чат контактные данные
Домой Видео Список воспроизведений Website

30В/1А одноканальная подкарта источника постоянного тока измерения CS100

Многоканальное испытательное оборудование
February 24, 2025
Category Connection: Многоканальное испытательное оборудование
Чат контактные данные
Представляем CS100, высокопроизводительный одноканальный модуль измерения источника постоянного тока, предлагающий точность 0,1%, скорость отбора проб 1kS/s и гибкую конфигурацию, идеальную для испытаний полупроводников,испытания новых энергетических батарей, и многое другое, Добро пожаловать на наш сайт!
Тэги:
#Отряд Smu #pxi SMU #Единица измерения источника PXI
Связанные видео
10V/500mA Четырехканальная подкарта постоянного тока источника измерения CS401 00:26

10V/500mA Четырехканальная подкарта постоянного тока источника измерения CS401
Многоканальное испытательное оборудование
February 24, 2025
10V/500mA Четырехканальная подкарточная установка измерения источника импульса CBI401 00:24

10V/500mA Четырехканальная подкарточная установка измерения источника импульса CBI401
Многоканальное испытательное оборудование
February 24, 2025
10V/1A Четырехканальная подкарточная система измерения источника импульса CBI402 00:24

10V/1A Четырехканальная подкарточная система измерения источника импульса CBI402
Многоканальное испытательное оборудование
February 24, 2025
Карта сбора данных A400 с 16-разрядным разрешением ADC и скоростью отбора проб 1 Мс/с 00:24

Карта сбора данных A400 с 16-разрядным разрешением ADC и скоростью отбора проб 1 Мс/с
Карта сбора данных
February 26, 2025
10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников 00:30

10 кВ/6000А Анализатор силового устройства Система статического испытания PMST для MOSFET BJT IGBT и SiC GaN полупроводников
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
Многоканальная высокомощная система лазерного старения LDBI 00:34

Многоканальная высокомощная система лазерного старения LDBI
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
1000A/18V высоковольтный импульсный источник питания HCPL100 для испытания SiC/IGBT/GaN HEMT 00:24

1000A/18V высоковольтный импульсный источник питания HCPL100 для испытания SiC/IGBT/GaN HEMT
Блок измерения источника
February 25, 2025
ПРЕЧЕННЫЙ Инструмент. Источник исследования Внутренняя и внешняя согласованность. 01:24

ПРЕЧЕННЫЙ Инструмент. Источник исследования Внутренняя и внешняя согласованность.
Другие видео
February 17, 2025
Анализатор параметров полупроводников 1200В/100А SPA6100 00:36

Анализатор параметров полупроводников 1200В/100А SPA6100
Системы испытаний полупроводников
February 26, 2025
2 MS/s Многоканальная карта получения данных A400B Board Высокая скорость 00:27

2 MS/s Многоканальная карта получения данных A400B Board Высокая скорость
Блок измерения источника
February 26, 2025